Transmisyjny mikroskop elektronowy – system stacjonarny 

Być może w charakterze badań przesiewowych lub w celu kontynuowania rutynowych analiz, podczas gdy system modeli podłogowych jest stosowany w bardziej wymagających zastosowaniach. System stacjonarny może również służyć jako stopniowe podejście do uzasadnienia większego systemu, ustalając wartość SEM, jednocześnie umożliwiając opartą na doświadczeniu ocenę potrzeb i kosztów bardziej zaawansowanych możliwości od zewnętrznego dostawcy.

Użytkownicy

Ile osób będzie korzystać z systemu? Czy użytkownicy są przeszkoleni? Jeśli nie, to ile czasu są skłonni poświęcić na szkolenie? Biurkowe SEM MikroskopElektronowy.pl są proste w obsłudze i wymagają niewielkiego lub żadnego przygotowania próbki. Uzyskanie obrazu może być tak proste, jak naciśnięcie kilku przycisków. Dostęp do bardziej zaawansowanych procedur mają użytkownicy o określonych potrzebach, którzy chcą poświęcić trochę czasu na szkolenie. Ogólnie rzecz biorąc, wymagania dotyczące szkolenia operatorów są znacznie niższe w przypadku systemu stacjonarnego, a sam system jest znacznie bardziej niezawodny. Trudniej ją złamać, a potencjalny koszt naprawy jest znacznie niższy.

Wybór między SEM a TEM

Ze wszystkiego, co wymieniliśmy, jasno wynika, że nie ma „lepszej” techniki; wszystko zależy od rodzaju analizy, której potrzebujesz. TEM to wybór, gdy chcesz uzyskać informacje z wewnętrznej struktury, podczas gdy SEM jest preferowany, gdy wymagane są informacje o powierzchni. Oczywiście głównymi czynnikami decyzyjnymi są duża różnica w cenie między dwoma systemami, a także łatwość użytkowania. TEM mogą zapewniać użytkownikowi znacznie większą zdolność rozdzielczą i wszechstronność, ale są znacznie droższe i większe niż SEM oraz wymagają więcej wysiłku, aby uzyskać i zinterpretować wyniki.

Aby dowiedzieć się więcej o SEM i sprawdzić, czy spełnia ono Twoje wymagania badawcze, zapoznaj się z naszym bezpłatnym e-przewodnikiem: Jak wybrać skaningowy mikroskop elektronowy. Ten e-przewodnik ma na celu pomóc Ci w wyborze najbardziej odpowiednich systemów Skaningowego Mikroskopu Elektronowego (SEM) do Twoich badań. Można zaobserwować regularny układ plam dyfrakcyjnych, tzw. wzór dyfrakcyjny (DP). Podczas gdy transmitowane i ugięte wiązki interferują na płaszczyźnie obrazu, pojawia się powiększony obraz (obraz z mikroskopu elektronowego). Płaszczyzna, na której tworzy się DP, nazywana jest przestrzenią odwrotną, a płaszczyzna obrazu nazywana jest przestrzenią rzeczywistą. Może matematycznie przekształcić przestrzeń rzeczywistą w przestrzeń odwrotną.